Trong lĩnh vực sản xuất wafer, nơi các yêu cầu về độ sạch đối với đường ống dẫn phân phối độ tinh khiết cao cực kỳ nghiêm ngặt, sự thôi nhiễm ion kim loại và sự phát tán hạt là hai chỉ số cốt lõi nhất. Sau nhiều vòng thử nghiệm xác nhận, BSL (Baoshili) Ống PFA siêu sạch mang lại hiệu suất ổn định và vượt trội, với tất cả các chỉ số quan trọng đạt mức hàng đầu quốc tế và đáp ứng yêu cầu của các nút quy trình tiên tiến.

Trong thử nghiệm xác nhận sự thôi nhiễm ion kim loại, các phòng thí nghiệm BSL đã mô phỏng các điều kiện thử nghiệm khắc nghiệt: ngâm tĩnh liên tục 7 ngày trong dung dịch HCl 37% ở nhiệt độ không đổi 85°C. Kết quả cho thấy mức độ thôi nhiễm của các ion quan trọng như Na, Al và Fe thấp hơn nhiều so với các sản phẩm thương hiệu quốc tế tương đương. Sự kết hợp giữa nguyên liệu nhựa siêu sạch và quy trình đùn nóng chảy ở nhiệt độ cao giúp hạn chế sự xâm nhập của tạp chất ngay từ nguồn sản xuất, tạo nên hàng rào độ sạch vững chắc cho hoạt động chế tạo chip tiên tiến.

Trong khi đó, ở thử nghiệm hạt được thực hiện thông qua quá trình xả tuần hoàn nước siêu tinh khiết (UPW), số lượng hạt của Ống PFA siêu sạch thấp hơn đáng kể so với các sản phẩm hàng đầu quốc tế. Đặc biệt trong phạm vi kích thước hạt quan trọng ≥0.2μm, số lượng hạt gần như bằng không. Nhờ công nghệ quy trình độc quyền, Ống PFA siêu sạch BSL đạt được độ nhám bề mặt thấp hơn (giá trị Ra) và thành ống bên trong mượt mà hơn, giúp giảm sự lưu giữ và hấp phụ hạt về mặt vật lý ngay từ nguyên nhân gốc.